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超高分辨成像日立的高亮度电子源可保证了即使在超低着陆电压下，也可获得超高分辨的图像。0.8kV电压条件下观察RHO型沸石的实例。左图为颗粒整体的形貌,右图为放大图像，颗粒表面细微的台阶结构清晰可见。低电压观察对于减少电子束损伤
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超高分辨观察和超强分析能力日立的高亮度肖特基场发射电子枪可同时支持超高分辨观察和快速微束分析。在不使用样品台减速的情况下，仅用0.1kV的低加速电压仍可进行高分辨观察，适应更多应用场景。同时，可搭配多种新型探测器和其他丰富的选配项，满足更
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日立独有的双隙物镜设计，支持低倍率下的大视野高反差观察与高分辨率观察凭借在明亮环境中的数字化操作环境和各种自动功能，从初学者到熟练者均可操作通过全新设计的"ImageNavigation&qu
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◆高分辨率扫描透射电子显微镜成像HAADF-STEM图像0.136nm，FFT图像0.105nm(高分辨率镜头*)HAADF-STEM图像0.144nm(标准镜头)明场扫描透射电子显微镜
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1.标配日立生产的照射系统球差校正器（附自动校正功能）2.搭载具有高辉度、高稳定性的冷场FE电子枪3.镜体和电源等的高稳定性使机体的性能大幅度提升4.观察像差校正SEM/STEM图像的同时观察原子分辨率SE图像5.采用侧面放入样品的新型样品
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FlexSEM1000II，凭借全新设计的电子光学系统和高灵敏度检测器，可在加速电压20kV下实现4.0nm的分辨率。全新开发的用户界面，具有亮度和对焦自动调节功能，可以在短时间内进行各种观察。此外，还搭载了全新的导航功能“SEM
